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液體式溫度沖擊試驗箱
更新時間：2025-07-14
產品型號：ZT-CTH-56C
廠商性質：生產廠家
生產地址：橋頭鎮
產品報價：
產品特點：液體式溫度沖擊試驗箱適用于國防工業,航空工業、兵工業、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產品、塑 膠、化工業、食品業、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁制藥工業及相關產品等設備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗（沖擊）。
| 品牌 | ZTCK正臺 | 價格區間 | 50萬-100萬 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 醫療衛生,化工,能源,汽車及零部件,綜合 |
液體式溫度沖擊試驗箱用途：
適用于國防工業,航空工業、兵工業、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產品、塑 膠、化工業、食品業、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁制藥工業及相關產品等設備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗（沖擊），適應于儀器、儀表、電工、電子產品整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質,從精密的IC到重機械的組無一不需要它的理想測試工具.
液體式溫度沖擊試驗箱滿足標準：
GJB150.5-86溫度沖擊試驗
GJB360.7-87溫度沖擊試驗
GJB150.4-86 低溫試驗箱試驗方法
GJB150.3-86 高溫試驗箱試驗方法
IEC68-2-14 試驗N：溫度變化
GB2423.1-89 電工電子產品基本試驗規程試驗A:低溫試驗方法
GB 2423-22環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化
MIL-STD-202F美軍標準,電子及電氣試驗方法
MIL-STD-883E美軍標準,集成電路失效分析方法
主要參數
n溫度暴露范圍：+60℃ ～ +150℃/-65℃ ～ 0℃
n測試時間： ≥10min
n溫度轉換時間：≥30S
n測試方式：試樣放入不同溫度的液體介質中
型號 | ZT-CTH-27C | ZT-CTH-56C |
模式 | 浸漬在液體介質浴中，通過樣品籃的移動到達低溫或高溫槽內 | |
試驗樣品尺寸(mm) | 130×160×130 【W*H*D】 | 160×160×220 【W*H*D】 |
預冷溫度范圍 | -70℃～0℃ | |
預熱溫度范圍 | +60℃～+200℃ | |
溫度沖擊范圍 | -40℃～+150℃/-65℃～+150℃ | |
測試時間 | ≥10 mins | ≥10 mins |
轉換移動時間 | ≤30s | |
溫度偏差 | ±1.0℃ | |
溫度波動度 | ±0.5℃ | |
溫度波動度 | ±1.0℃ | |
使用電源 | AC 3￠5W 380V 60/50Hz | |
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